СЕМ и ЕДС Анализи → Обява 47205416

Извършваме СЕМ и ЕДС анализи с микроскоп SEM JEOL-733 с възможности за визуализиране на структурата, повърхностната морфология и състава на материали.

Обекти на анализ могат да са тънки еднослойни и многослойни структури, обемни и влакнести материали, счупени повърхности (фрактография), биологични обекти и др.

С помощта на микросонда WDX (Wavelenght Dispersive X-ray analyzer) може да се осъществява качествен и количествен анализ (в точка, линия или област) на химичните елементи в изследваните образци.

Могат да бъдат анализирани образци с размери до 350 x 350 x 100 mm;

Предварителна подготовка на обектите за анализ – при необходимост може да бъде извършено отрязване, счупване (за фрактография), шлифоване, полиране, проявяване, покриване с проводим елемент, наблюдаване и получаване на цифрово изображение с помощта на светлинен микроскоп;

Изследване на топография на повърхността (ТОРО) - използват се вторичните електрони от обекта, които дават изображение с висока разделителна способност и дълбочина на фокуса, което позволява триизмерно визуализаиране на наблюдавната морфология; максимално увеличение 40 000x;

Изображение от повърхностния състав на обекта (COMPO) - илюстрира картина на повърхността според разпределението на химични елементи с различна атомна маса;

Елементен анализ с чувствителност ~ 0,5 тегловни % и най-нисък атомен номер за откриваем елемент 11 (Na). Чрез анализатор на дължините на рентгеновите фотони може да бъде получена информация за химичните елементи на дълбочина 0,5 µm и тяхното количество в областта на попадане на електронния лъч с размери от 1 до 50 μm;