Акцент в книге поставлен на количественном и качественном анализе неорганических веществ, использовании метода порошка для решения некоторых задач структурного анализа, прецизионном определении параметров решетки. Рассмотрено влияние несовершенств решетки и размеров кристаллитов на дифракционную картину.
Книга является учебным пособием для студентов и аспирантов, специализирующихся в области химии и технологии неорганических веществ, катализа, радиоэлектроники и т.д. Она может представлять интерес и для специалистов, работающих в указанных направлениях.